北京打造全球科创中心 中关村在英推介20条国际人才新政
NI（已正式成为艾默生一员，现作为艾默生旗下新的测试与测量业务集团运营）近日宣布了一项新计划，利用NI Global Operations（GO，前身为Optimal+）平台在边缘侧提供实时的半导体分析解决方案。这种更新水平的基础设施和控制能力为平台用户、NI自身、乃至第三方人员开发更先进和更定制化的应用程序打开了大门。此次发布的亮点是NI GO生态系统中的新支持层以及开始与领先ATE供应商泰瑞达（Teradyne）的合作。OptimalPlus GO对半导体测试操作的质量、良率、吞吐量和功能需求的不断提
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NI Global Operations ATE 泰瑞达 Teradyne
本文详细介绍一种创建双输出电压轨的方法，该方法能为设备电源(DPS)提供正负电压轨，并且只需要一个双向电源。传统的设备电源供电方法使用两个双向（拉电流和灌电流能力）电源，一个为正电压轨供电，一个为负电压轨供电。这种配置不但笨重，且成本高昂。简介DPS一般与自动测试设备(ATE)和其他测量设备搭配使用。ATE是一种电脑控制机械设备，自动驱动传统的手动电子测试设备来评估功能、质量、性能和应力测试。这些ATE需要配套的DPS提供四象限电源运行能力。DPS是一种四象限电源，可以提供正电压或负电压，同时具备拉电流和
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ADI ATE
2025-08-04，英国克拉克顿——英国Pickering公司作为生产用于电子测试及验证领域的信号开关与仿真解决方案的主要厂商，于今日公布了一套正式方案，用于保护客户免受测试工程师在维护自动测试设备（ATE）时面临的最昂贵的挑战之一 —— 产品淘汰。“对于具有长生命周期的关键任务产品的部件，在制造和设计了初始测试系统的数十年后，仍需要进行测试。”Pickering公司的 CEO Keith Moore说，“当仪器供应商停止使用这些测试系统中的部件时 —— 这通常会让从事航空航天/国防、铁路运输或电力的
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Pickering 产品淘汰 ATE
2019年SCALE-iFlex解决了模块化功率变换的挑战，配备主控制器的门级驱动产品。2021年Power Integrations新增SCALE-iFlex产品系列，分别为SCALE-iFlex LT和SCALE-iFlex Single，以支持要求更为严格的环境。SCALE-iFlex LT——在风电应用中具有高度的灵活性 从新增装机容量来看，2019年全球风电新增装机容量为60.4GW，较2001年增长超过8倍，年均复合增长率为13.18%。风电作为现阶段发展最快的可再生能源之一，在全球电力
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PI 双通道门极驱动器 SCALE-iFlex LT SCALE-iFlex Single
张桂玉，任希庆(安普德（天津）科技股份有限公司，天津?300384) 摘?要：本文测试的芯片是一款针对物联网市场开发的高性能2.4 GHz/5 GHz双频Wi-Fi射频芯片，支持802.11 a/b/g/n，Wi-Fi Direct、Soft AP以及STA/AP 模式共存。具有高速性、稳定性和传输距离远等特点，可以高度匹配音视频流媒体传输。广泛应用于无线流媒体音视频播放、虚拟现实、无人机、运动相机、车联网、工业控制、智能家居等领域。本文将对双频Wi-Fi芯片基于IntegraFlex平台量产测试开
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202006 2.4G/5G 双频Wi-Fi芯片 ATE IFLEX 量产测试 硬件和软件
集成电路自动测试设备（ATE，测试机）是检测芯片功能和性能的专用设备，据SEMI预测，2019年中国测试机占据后道检测设备的62.8%的份额（如图1）。数据来源：SEMI，赛迪顾问整理图1 2019年中国集成电路测试设备产品结构ATE测试的趋势是什么？为此，电子产品世界记者访问了泰瑞达业务战略总监翟朝艳（Natalian Der）女士，并深入了解了泰瑞达的产品特色与在华策略。1 芯片测试的新挑战为了捍卫电子产品的品牌，半导体公司可谓重任在肩：需要在芯片上整合多种功能，有高性能指标，很短的上市时间，合理的成
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测试机 ATE 芯片
图1所示的数字可编程精密电阻可在定制设计的 ATE（自动测试设备）中用作微处理器驱动的电源负载。IC1 是一个 8 位 电流输出型 DAC，即DAC08型DAC ，它
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罗德与施瓦茨公司认证了基于IMS 的融合通信5.3(RCS5.3) 235工作组一致性测试用例中的24条用例，进一步展示了罗德与施瓦茨公司在4G 和IMS测试测量领域的领先地位，同时也是业界唯一的一个通过该认证的仪表厂家。 2025-08-04，慕尼黑——这些用例是在新加坡召开的 GCF一致性和交互性工作组会议上通过的。融合通信(RCS)基于IP多媒体子系统可以支持不同的应用包括即时消息，在线提示以及在视频通话中共享多媒体内容等。由于不断增长的手机用户和移动网
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R&S CMW-ATE
自动测试设备(ATE)系统中的示波器需求-在测试电子器件时，很难不提到示波器所具有的通用性。为了对电子电路进行验证，工程师需要能够查看和测量其设计中的信号。自动测试设备（ATE）通常不提供大量可视化故障诊断，这对于必须安装、校准并对系统进行故障诊断的用户来说是一大挑战。这些操作需要可视化工具，示波器便能提供这种工具。
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半导体测试行业现状 电子行业正处于不断的压力下必须降低其制造成本。上市时间给半导体制造商很大的压力，在新产品投入市场后的很短时间内，利润是最高的，随后，由于竞争者开发了类似底价产品，利润水平开始下降。开发一个有效的节省费用的测试程序往往是阻碍新产品投入批量生产的瓶颈。 对于半导体供应商来说，其中测试成本一直被视为没有“增值”的成本。如图1所示，ATE资本成本占IC平均销售价格(ASP)的百分比逐渐变小?-?从2001年的5%上升到2010年的约1%。然而，整体器件的ASP也在减
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2017年春天开始，笔者有幸每个月接触一家测试巨头的高管，谈论2017中国市场的热点时，半导体测试是被提及的最多的一个，也是最让很多人意外的一个。
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ATE PXI NI 半导体测试
NI(美国国家仪器公司，National Instruments，简称NI) 作为致力于帮助工程师和科学家应对全球最严峻的工程挑战的平台系统供应商，今日宣布推出了NI PXle-6570基于图形向量的数字通道板卡和NI数字图形向量编辑器。
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半导体测试ATE是整个测试系统中最为精密的一个环节，也是最具市场价值的测试应用领域之一，相比于几万块钱规模的自动化测试系统，动辄百万的半导体测试ATE从技术上就限制了很多玩家的进入。当然，庞大的系统有自己固有的问题，就是设备的使用成本过于昂贵，基于这样的需求，NI的PXI技术寻找了市场的切入点技术找到了市场的切入点。
在快速变迁的市场环境下，设备性能不断挑战着ATE系统功能的极限，测试设备的淘汰速度加快，测试成本也随之增加，因而需要与日益严苛的性能需求保持同步。 成本效益是NI吸引半导体测试客户的最大亮
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